Optimization of Capacitor Based DAC

 
Rybakov A.A., Shliakhova N.F. (Milandr)
 
Abstract - The capacitor matrix makes a significant contribution to the SAR ADC conversion error realized by capacitor based DAC. Reducing the influence of imperfections on the accuracy of conversion is achieve by the optimal arrangement of the matrix elements on the chip. The criterion of optimality is the objective function Ф, which takes into account the influence of two types of non-idealities (systematic and random errors), while reducing the number of metals used for wiring between pairs of adjacent vertical columns of the matrix. The search for optimal locations is carried out automatically according to the algorithm implemented in the C++ programming language. The optimal criterion is the objective function Φ, which takes into account the influence of two types of non-idealities (systematic and random errors), while reducing the number of metals used for wiring between pairs of neighboring vertical columns of the matrix. The systematic error is due to the presence of oxide thickness gradients and is minimized using a simple integrated model. A random error caused by local and global variations in the edges of the capacitor, the oxide thickness and its dielectric constant, and is minimized by increasing the overall correlation coefficient. Also, the error caused by the parasitic capacitances arising between the upper and lower plates of the DAC capacitors is minimized due to using the "interdigital" metallization rule. Based on the simulation results, the value of the discrepancy factor L is improved by 30% and overall correlation coefficient R is improved by 0.25% compared with the typical topology of the matrix. The proposed method provides a simplified search for the best arrangement of the elements of the capacitors matrix in which the total error is minimal.

Keywords - SAR ADC, capacitor based DAC, oxide-gradient-induced mismatch, overall correlation coefficient.

Оптимизация расположения конденсаторов в ЦАП

 
Рыбаков А.А., Шляхова Н.Ф. (АО ПКК Миландр, г. Зеленоград)
 
Аннотация - Предложен алгоритм оптимизации расположения конденсаторов в матрицах ЦАП. Критерием оптимальности является целевая функция Ф, учитывающая влияние двух типов неидеальностей (систематической и случайной ошибок), при одновременном уменьшении количества металлов, используемых для разводки между парами соседних вертикальных столбцов матрицы. По результатам моделирования, величина коэффициента рассогласования L улучшена по сравнению с типовой топологией матрицы на 30%, а величина общего коэффициента корреляции R на 0.25%. Количество металлов, используемых для разводки между парами соседних вертикальных столбцов матрицы уменьшено с 8 до 6. Предложенный алгоритм обеспечивает упрощенный поиск наилучшего расположения элементов матрицы конденсаторов при котором суммарная ошибка минимальна.

Ключевые слова - ЦАП на переключаемых конденсаторах, градиент толщины оксида, коэффициент корреляции.