Modulation Transfer Function Model for Photosensitive VLSI Under One Single Impact Particle Event

 
Pugachev A.A. ("PULSAR" Scientific and Production Enterprise, Joint Stock Company, IPPM RAS), Ivanova G.A. (IPPM RAS)
 
Abstract - The resolution is the main parameter of image sensors, and the modulation transfer function (MTF) is main figure of merit of resolution. The paper is about the new method for resolution degradation modeling under one single impact particle (SIP) event This method are based on 2-dimenshional physical-topological simulation of photogenerated carriers distribution in photosensitive pixels. This model established the direct dependence between resolution (MTF) and topological and technological parameters of VLSI and parameters of impact particle. For MTF calculation under the SIC event condition the test-input signal have been developed. With this test signal the various constructions of photosensitive pixels may be compared. The model gives new aids for photosensor design and overcomes restrictions of analytical resolution models. The simulation results confirm the universal character of the new MTF calculation method.

Keywords - modulation transfer function, matrix image sensor, single impact particle, CCD VLSI design.

Модель функции передачи модуляции фоточувствительных СБИС при воздействии ОЗЧ

 
Пугачёв А.А. (АО "Научно-производственное предприятие "Пульсар", Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН, г. Москва), Иванова Г.А. (Институт проблем проектирования в микроэлектронике РАН, г. Зеленоград)
 
Аннотация - Важнейшим показателем качества фоточувствительных СБИС (ФЧ СБИС) является разрешающая способность (РС). ФЧ СБИС - это высокочувствительные детекторы, и воздействие внешних факторов может привести к существенному снижению РС. Предложен метод оценки деградации РС через расчет функции передачи модуляции ФЧ СБИС при действия одиночной заряженной частицы на основе приборно-технологического моделирования.

Ключевые слова - фотоприемная матричная СБИС; разрешающая способность; функция передачи модуляции; физико-топологическое моделирование, одиночная заряженная частица