Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Чумаков А.И.

Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"

Листинг всех работ автора. Нажмите на название работы для того, чтобы получить по ней полную информацию.

2008 
 Стенин В.Я., Бетелин В.Б., Бобков С.Г., Краснюк А.А., Осипенко П.Н., Черкасов И.Г., Чумаков А.И., Яненко А.В.
Перспективы использования субмикронных КМОП СБИС в сбоеустойчивой аппаратуре, работающей под воздействием атмосферных нейтронов
 Чумаков А.И., Печенкин А.А., Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Баранов С.В., Васильев А.Л., Криницкий А.В.
Оценка параметров чувствительности СБИС к радиационным эффектам с помощью методики локального лазерного облучения
2010 
 Печенкин А.А., Васильев А.Л., Козлов А.А., Кольцов Д.О., Орлов А.А., Тарараксин А.С., Чумаков А.И., Яненко А.В.
Расчетно-экспериментальная оценка сбоеустойчивости ИС в условиях космического пространства
 Чумаков А.И.
Оценка параметров чувствительности БИС по одиночным эффектам с помощью лазерного излучения
2012 
 Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Чумаков А.И., Печенкин А.А., Кольцов Д.О.
Автоматизированная пикосекундная лазерная установка для моделирования эффектов от отдельных заряженных частиц космического пространства в микроэлектронных приборах
 Уланова А.В., Согоян А.В., Чумаков А.И., Никифоров А.Ю., Петров А.Г.
Особенности оценки радиационной стойкости микросхем в специализированных защитных корпусах
 Чумаков А.И., Васильев А.Л., Печенкин А.А., Савченков Д.В., Тарараксин А.С., Яненко А.В.
Оценка параметров чувствительности БИС к эффектам воздействия отдельных ядерных частиц с использованием лазерной и импульсной гамма- установок
2014 
 Чумаков А.И., Савченков Д.В., Печенкин А.А., Маврицкий О.Б., Егоров А.Н.
Экспериментальная апробация приближений для лазерных методик исследований ОРЭ
 Новиков А.А., Печенкин А.А., Рясной Н.В., Чумаков А.И.
Влияние предварительного облучения на одиночные радиационные эффекты
 Боруздина А.Б., Уланова А.В., Горбунов М.С., Чумаков А.И.
Влияние угла падения тяжелых заряженных частиц и записанного кода на кратность сбоев в микросхемах СОЗУ
2016 
 Чумаков А.И., Согоян А.В., Боруздина А.Б., Смолин А.А., Печенкин А.А.
Механизмы многократных сбоев в микросхемах памяти
 Чумаков А.И.
Двухпараметрическая модель для оценки чувствительности СБИС к воздействию тяжелых заряженных частиц
 Боруздина А.Б., Темирбулатов М.С., Печенкин А.А., Уланова А.В., Яшанин И.Б., Эннс В.И., Яненко А.В., Чумаков А.И.
Особенности экспериментальных методов исследования микросхем памяти с помехоустойчивым кодированием данных
 

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН