Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Стенин В.Я.

ФГУ "ФНЦ НИИСИ РАН"
Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"

Листинг всех работ автора. Нажмите на название работы для того, чтобы получить по ней полную информацию.

2005 
 Краснюк А.А., Стенин В.Я.
Моделирование SEU сбоев в субмикронных КНИ-КМОП ячейках памяти с учетом температурных эффектов
2006 
 Жарков И.А., Краснюк А.А., Стенин В.Я.
Уменьшение влияния однократных помех в субмикронных триггерных ячейках памяти
2008 
 Краснюк А.А., Стенин В.Я., Черкасов И.Г., Яковлев А.В.
Анализ работоспособности субмикронных КМОП СБИС ОЗУ при экстремальных тепловых режимах
 Стенин В.Я., Бетелин В.Б., Бобков С.Г., Краснюк А.А., Осипенко П.Н., Черкасов И.Г., Чумаков А.И., Яненко А.В.
Перспективы использования субмикронных КМОП СБИС в сбоеустойчивой аппаратуре, работающей под воздействием атмосферных нейтронов
2012 
 Катунин Ю.В., Стенин В.Я.
Сравнительное моделирование сбоеустойчивости суб-100-нм двухфазных КМОП инверторов с разными проектными нормами к воздействию локальных импульсов тока
 Стенин В.Я., Степанов П.В.
Моделирование сбоеустойчивости 65 нм шеститранзисторных КМОП ячеек памяти к локальному воздействию импульса тока
2014 
 Катунин Ю.В., Стенин В.Я.
Сбоеустойчивость двухфазных 28 нм КМОП инверторов к одиночным эффектам воздействия ядерных частиц
 Стенин В.Я., Степанов П.В.
Проектирование базовых элементов памяти на основе ячеек DICE для сбоеустойчивых КМОП 28 нм ОЗУ
 Стенин В.Я.
Моделирование нестационарных характеристик КМОП 28-нм ячеек памяти DICE с учетом эффектов воздействия одиночных ядерных частиц
2016 
 Стенин В.Я., Антонюк А.В.
Логический элемент сравнения для 65 нм КМОП селекторов ассоциативных запоминающих устройств
 Стенин В.Я., Катунин Ю.В., Степанов П.В.
КМОП 65-нм статические ОЗУ на ячейках памяти DICE с разнесенными на кристалле группами транзисторов
 

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН