Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

ОАО "ЭНПО Специализированные электронные системы"

Листинг всех работ организации. Нажмите на название работы для того, чтобы получить по ней полную информацию.

2008 
 Чумаков А.И., Печенкин А.А., Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Баранов С.В., Васильев А.Л., Криницкий А.В.
Оценка параметров чувствительности СБИС к радиационным эффектам с помощью методики локального лазерного облучения
 Стенин В.Я., Бетелин В.Б., Бобков С.Г., Краснюк А.А., Осипенко П.Н., Черкасов И.Г., Чумаков А.И., Яненко А.В.
Перспективы использования субмикронных КМОП СБИС в сбоеустойчивой аппаратуре, работающей под воздействием атмосферных нейтронов
 Давыдов Г.Г., Согоян А.В., Петров А.Г., Артамонов А.С., Яшанин И.Б., Скобелев А.В., Седаков А.Ю.
Применение методики неразрушающего контроля дозовой стойкости партий КМОП КНС БИС
2010 
 Чибисов П.А., Трубицын Д.А., Баранов С.В.
Алгоритмы тестирования памяти при проведении радиационных испытаний микропроцессорного модуля
 Согоян А.В.
Оценка стойкости КМОП СБИС к фактору поглощенной дозы при воздействии импульсного излучения
 Печенкин А.А., Васильев А.Л., Козлов А.А., Кольцов Д.О., Орлов А.А., Тарараксин А.С., Чумаков А.И., Яненко А.В.
Расчетно-экспериментальная оценка сбоеустойчивости ИС в условиях космического пространства
2012 
 Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Чумаков А.И., Печенкин А.А., Кольцов Д.О.
Автоматизированная пикосекундная лазерная установка для моделирования эффектов от отдельных заряженных частиц космического пространства в микроэлектронных приборах
 Тарараксин А.С., Нигматуллин Р.Р., Савченков Д.В., Соловьев С.А., Яненко А.В.
Методики исследования и предотвращения развития катастрофического отказа вследствие одиночного тиристорного эффекта
 Уланова А.В., Согоян А.В., Чумаков А.И., Никифоров А.Ю., Петров А.Г.
Особенности оценки радиационной стойкости микросхем в специализированных защитных корпусах
 Чумаков А.И., Васильев А.Л., Печенкин А.А., Савченков Д.В., Тарараксин А.С., Яненко А.В.
Оценка параметров чувствительности БИС к эффектам воздействия отдельных ядерных частиц с использованием лазерной и импульсной гамма- установок
2014 
 Новиков А.А., Печенкин А.А., Рясной Н.В., Чумаков А.И.
Влияние предварительного облучения на одиночные радиационные эффекты
 Боруздина А.Б., Уланова А.В., Горбунов М.С., Чумаков А.И.
Влияние угла падения тяжелых заряженных частиц и записанного кода на кратность сбоев в микросхемах СОЗУ
 Смолин А.А., Уланова А.В., Согоян А.В., Демидов А.А.
Моделирование радиационно-индуцированных токов утечки в МОП-структурах при воздействии гамма- и рентгеновского излучений
 Усачев Н.А., Елесин В.В., Назарова Г.Н., Чуков Г.В., Телец В.А., Амбуркин К.М., Сотсков Д.И., Дмитриев В.А., Шелепин Н.А.
Системный подход к проектированию интегральных приемопередатчиков считывателей для систем РЧИ УВЧ диапазона
 Борисов А.Я., Кессаринский Л.Н.
Сравнительное исследование ионизационных эффектов в стабилизаторе напряжения TEN5-2423 от протонного и гамма-излучения
 Маврицкий О.Б., Егоров А.Н., Печенкин А.А., Савченков Д.В., Телец В.А.
Фемтосекундный лазерный комплекс для тестирования СБИС на стойкость к воздействию тяжелых заряженных частиц
 Чумаков А.И., Савченков Д.В., Печенкин А.А., Маврицкий О.Б., Егоров А.Н.
Экспериментальная апробация приближений для лазерных методик исследований ОРЭ
2016 
 Селецкий А.В., Шелепин Н.А., Смолин А.А., Уланова А.В.
Исследование влияния разброса технологических параметров СБИС на стойкость к эффектам накопленной дозы радиации с помощью средств приборно-технологического моделирования
 Чумаков А.И., Согоян А.В., Боруздина А.Б., Смолин А.А., Печенкин А.А.
Механизмы многократных сбоев в микросхемах памяти
 Боруздина А.Б., Темирбулатов М.С., Печенкин А.А., Уланова А.В., Яшанин И.Б., Эннс В.И., Яненко А.В., Чумаков А.И.
Особенности экспериментальных методов исследования микросхем памяти с помехоустойчивым кодированием данных
 Московская Ю., Сорокоумов Г., Бобровский Д., Никифоров А.Ю., Денисов А.Н., Сницар В.Г., Жуков А.А., Уланова А.В.
Рациональный состав типовой оценочной схемы для контроля радиационной стойкости партий пластин базовых матричных кристаллов
 

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН