Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Метод проверки правил электромиграции в СБИС

Авторы
 Меликян В.Ш.
Год публикации
 2008
УДК
 621.3.049.771

Аннотация
 Описаны новый метод проверки правил электромиграции в СБИС, а также возможности соответствующего программного пакета, учитывающие реалии субмикронных технологий и удовлетворяющие современным практическим требованиям
проектирования СБИС.
Ключевые слова
 проверка правил, электромиграция, СБИС
Ссылка на статью
 Меликян В.Ш. Метод проверки правил электромиграции в СБИС // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 159-163.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2008/26.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН