Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Анализ динамических процессов распространения помех в подложках интегральных элементов методами приборно-технологического моделирования

Авторы
 Крупкина Т.Ю.
 Родионов Д.В.
Год публикации
 2008
УДК
 621.38

Аннотация
 Проведено исследование распределенных эффектов в подложке с помощью средств приборно-технологического моделирования TCAD. Предложены эквивалентные схемы, описывающие взаимодействие интегральных транзисторных структур через подложку.
Ключевые слова
 распространение помех в подложках интегральных элементов, приборно-технологическое моделирование
Ссылка на статью
 Крупкина Т.Ю., Родионов Д.В. Анализ динамических процессов распространения помех в подложках интегральных элементов методами приборно-технологического моделирования // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 179-182.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2008/30.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН