Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Приборно-технологическое моделирование элементной базы КМОП КНИ БИС с учётом факторов радиационного воздействия

Авторы
 Харитонов И.А.
 Петросянц К.О.
 Орехов Е.В.
 Ятманов А.П.
 Самбурский Л.М.
Год публикации
 2008
УДК
 621.38

Аннотация
 Описана доработка системы ISE TCAD по расширению возможностей в части учета эффектов радиационного воздействия на КМОП КНИ структуры. Отработана методика моделирования в ISE TCAD воздействия суммарной полученной дозы, импульсного излучения, отдельных частиц на КМОП КНИ структуры. Приведены примеры моделирования эффектов суммарной поглощенной дозы и воздействия одиночных частиц на элементы КМОП КНИ БИС.
Ключевые слова
 Приборно-технологическое моделирование, КМОП КНИ БИС, радиационное воздействие
Ссылка на статью
 Харитонов И.А., Петросянц К.О., Орехов Е.В., Ятманов А.П., Самбурский Л.М. Приборно-технологическое моделирование элементной базы КМОП КНИ БИС с учётом факторов радиационного воздействия // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 266-271.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2008/48.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН