Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Оценка параметров чувствительности СБИС к радиационным эффектам с помощью методики локального лазерного облучения

Авторы
 Чумаков А.И.
 Печенкин А.А.
 Егоров А.Н.
 Маврицкий О.Б.
 Баранов С.В.
 Васильев А.Л.
 Криницкий А.В.
Год публикации
 2008
УДК
 621.382

Аннотация
 Представлены результаты расчетно-экспериментального моделирования для оценки параметров чувствительности СБИС к эффектам одиночных сбоев и тиристорным эффектам при воздействии отдельных ядерных частиц. Методика базируется на использовании локального лазерного воздействия на отдельные элементы и узлы СБИС.
Ключевые слова
 Одиночные эффекты, радиационная стойкость, лазерное излучение
Ссылка на статью
 Чумаков А.И., Печенкин А.А., Егоров А.Н., Маврицкий О.Б., Баранов С.В., Васильев А.Л., Криницкий А.В. Оценка параметров чувствительности СБИС к радиационным эффектам с помощью методики локального лазерного облучения // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 276-279.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2008/50.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН