Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Анализ работоспособности субмикронных КМОП СБИС ОЗУ при экстремальных тепловых режимах

Авторы
 Краснюк А.А.
 Стенин В.Я.
 Черкасов И.Г.
 Яковлев А.В.
Год публикации
 2008
УДК
 621.38

Аннотация
 Моделирование и экспериментальное исследование теплового изменения характеристик КМОП ячеек памяти субмикронных КМОП ОЗУ в широком диапазоне температур от минус 50оС до +150оС показали, что СБИС с субмикронными проектными нормами на основе объемного КМОП с эпитаксиальными слоями 0,35 мкм и индустриального объемного КМОП 0,18 мкм технологических процессов в целом обеспечивают высокие предельно допустимые тепловые режимы эксплуатации.
Ключевые слова
 субмикронные КМОП СБИС ОЗУ, экстремальные тепловые режимы
Ссылка на статью
 Краснюк А.А., Стенин В.Я., Черкасов И.Г., Яковлев А.В. Анализ работоспособности субмикронных КМОП СБИС ОЗУ при экстремальных тепловых режимах // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 447-452.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2008/84.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН