Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Бивалентный дефект модулярных кодов. Выбор технологичных модулей понижающих бивалентный дефект

Авторы
 Амербаев В.М.
 Тельпухов Д.В.
 Константинов А.В.
Год публикации
 2008
УДК
 004.272.2

Аннотация
 Изучается актуальная проблема адаптации перспективных нетрадиционных многозначных арифметик параллельной структуры к двузначной элементной базе современных технологий проектирования. Вводится понятие бивалентного дефекта модулярных кодов. Бивалентный дефект позволяет осуществлять гибкий выбор технологичных модулей в зависимости от поставленных технологических целей.
Ключевые слова
 бивалентный дефект, технологичные модули, модулярные коды, система остаточных классов.
Ссылка на статью
 Амербаев В.М., Тельпухов Д.В., Константинов А.В. Бивалентный дефект модулярных кодов. Выбор технологичных модулей понижающих бивалентный дефект // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2008. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2008. С. 462-465.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2008/87.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН