Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Архитектура средств встроенного самотестирования микросхем памяти  

Авторы
 Андриенко В.А.
 Рябцев В.Г.
 Уткина Т.Ю.
Год публикации
 2010
УДК
 50.11.31

Аннотация
 Рассматривается архитектура встроенных средств самотестирования, обеспечивающая получение всех возможных сочетаний кодов данных, хранящихся в смежных ячейках, окружающих базовые ячейки, что приводит к выявлению отказов, вызванных взаимным влиянием запоминающих ячеек.
Ключевые слова
 функции Уолша, микросхема памяти, средства самотестирования.
Ссылка на статью
 Андриенко В.А., Рябцев В.Г., Уткина Т.Ю. Архитектура средств встроенного самотестирования микросхем памяти // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 386-389.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-37-52131.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН