Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Моделирование SEU сбоев в субмикронных КНИ-КМОП ячейках памяти с учетом температурных эффектов

Авторы
 Краснюк А.А.
 Стенин В.Я.
Год публикации
 2005
УДК
 621.38

Аннотация
 Проведены исследования, показывающие допустимость применения SPICE моделирования для исследования SEU сбоев в симметричных триггерных ячейках памяти, а также позволяющие достаточно просто оценивать влияние температуры на характеристики сбоеустойчивости.
Ключевые слова
 Моделирование SEU сбоев, субмикронные КНИ-КМОП ячейки памяти
Ссылка на статью
 Краснюк А.А., Стенин В.Я. Моделирование SEU сбоев в субмикронных КНИ-КМОП ячейках памяти с учетом температурных эффектов // Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2005. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2005. С. 191-195.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2005/28.doc

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН