Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Алгоритмы тестирования памяти при проведении радиационных испытаний микропроцессорного модуля  

Авторы
 Чибисов П.А.
 Трубицын Д.А.
 Баранов С.В.
Год публикации
 2010
УДК
 004.072

Аннотация
 В статье предложены алгоритмы тестирования различных типов памяти в условиях неблагоприятных внешних факторов.
Ключевые слова
 Тестирование, память.
Ссылка на статью
 Чибисов П.А., Трубицын Д.А., Баранов С.В. Алгоритмы тестирования памяти при проведении радиационных испытаний микропроцессорного модуля // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 257-260.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-156-12871.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН