Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Минимизация площади соединений с учетом эффекта электромиграции и падения напряжения на проводниках  

Авторы
 Шеблаев М.В.
 Плеханов А.С.
Год публикации
 2010
УДК
 519.658, 519.677

Аннотация
 В данной статье рассмотрен алгоритм, позволяющий путем изменения ширин проводников минимизировать общую площадь проводников цепи с учетом ограничений, накладываемых эффектом электромиграции и падения напряжения на проводниках. Предложено использовать в процессе минимизации граф ограничений для повышения производительности алгоритма, что также позволяет задавать максимальную ширину каждого проводника и его вес.
Ключевые слова
 электромиграция, падение напряжения, граф ограничений
Ссылка на статью
 Шеблаев М.В., Плеханов А.С. Минимизация площади соединений с учетом эффекта электромиграции и падения напряжения на проводниках // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 196-199.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-166-13241.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН