Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Моделирование статической погрешности конвейерных АЦП с калибровкой  

Авторы
 Лифшиц В.Б.
 Агрич Ю.В.
Год публикации
 2010
УДК
 621.382

Аннотация
 Предложена модель, позволяющая быстро оценить влияние технологических факторов на статическую погрешность конвейерных АЦП с калибровкой до начала схемотехнического проектирования. Рассмотрены основные источники погрешности. Приведены примеры из опыта разработки 12-разрядного АЦП по 180 нм технологии.
Ключевые слова
 АЦП, ЦАП, УВХ, коррекция, ка-либровка, Flash, RSD, INL, DNL
Ссылка на статью
 Лифшиц В.Б., Агрич Ю.В. Моделирование статической погрешности конвейерных АЦП с калибровкой // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 527-532.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-135-19281.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН