Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Алгоритм определения размеров транзисторов, базируемый на статистическом статическом временном анализe  

Авторы
 Меликян В.Ш.
 Мирзоян Д.Л.
 Петросян Г.А.
 Агаронян В.К.
Год публикации
 2010
УДК
 621.3.049.771

Аннотация
 Из-за вариации параметров технологических процессов в субмикронных технологиях отмечаются большие вариации задержек интегральных схем (ИС), влияющие на коэффициент выхода ИС. Представлен алгоритм определения размеров логических элементов, оценивающий вариации задержки схемы, используя статистический статический временной анализ (ССВА) с учетом межсхемных и внутрисхемных вариаций и калибруя размеры логических элементов для достижения необходимого коэффициента выхода.
Ключевые слова
 Алгоритм, коэффициент выхода,статический временной анализ.
Ссылка на статью
 Меликян В.Ш., Мирзоян Д.Л., Петросян Г.А., Агаронян В.К. Алгоритм определения размеров транзисторов, базируемый на статистическом статическом временном анализe // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 114-119.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-26-25052.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН