Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Оценка стойкости КМОП СБИС к фактору поглощенной дозы при воздействии импульсного излучения  

Авторы
 Согоян А.В.
Год публикации
 2010
УДК
 621.382

Аннотация
 Предложен и обоснован метод испытаний КМОП СБИС на стойкость к фактору поглощенной дозы при воздействии импульсного ионизирующего излучения высокой интенсивности по результатам анализа реакции БИС в поле излучения последовательности импульсов относительно невысокой интенсивности. Подход позволяет оценить уровни радиационной стойкости КМОП БИС на малых моделирующих установках при наборе дозы в режиме серии импульсов. Консервативность обеспечивается по отношению к процессам переноса и релаксации заряда в окисле МОП-структур и не зависит от полевого режима и топологии образца.
Ключевые слова
 СБИС; излучение; доза; мощность дозы
Ссылка на статью
 Согоян А.В. Оценка стойкости КМОП СБИС к фактору поглощенной дозы при воздействии импульсного излучения // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2010. Сборник трудов / под общ. ред. академика А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2010. С. 253-256.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2010/papers/m10-294-88591.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН