Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Тесты аттестации архитектуры RTL-модели 64-разрядного суперскалярного микропроцессора

Авторы
 Аряшев С.И.
 Николина Н.В.
 Чибисов П.А.
Год публикации
 2005
УДК
 004.318

Аннотация
 В статье рассмотрены подходы к написанию тестовых программ, позволяющих осуществить проверку соответствия RTL-модели спецификации.
Ключевые слова
 тестирование микропроцессора
Ссылка на статью
 Аряшев С.И., Николина Н.В., Чибисов П.А. Тесты аттестации архитектуры RTL-модели 64-разрядного суперскалярного микропроцессора // Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2005. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2005. С. 257-262.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2005/38.doc

Copyright © 2009-2019 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН