Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем  

Авторы
 Ачкасов В.Н.
 Смерек В.А.
 Уткин Д.М.
 Зольников В.К.
Год публикации
 2012
УДК
 004.942

Аннотация
 Рассмотрено влияние одиночных сбоев на работу цифровых устройств. Показана реализация методов защиты от одиночных сбоев на примере микросхем К1830ВЕ32УМ и 1830ВЕ32У.
Ключевые слова
 Интегральная схема; одиночные сбои; структурная избыточность; временная избыточность; программная избыточность.
Ссылка на статью
 Ачкасов В.Н., Смерек В.А., Уткин Д.М., Зольников В.К. Методы обеспечения стойкости микросхем к одиночным событиям при проектировании радиационно-стойких микросхем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 634-637.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D86.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН