Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Методика встроенного тестирования субмикронных цифровых КМОП СБИС  

Авторы
 Ладнушкин М.С.
Год публикации
 2012
УДК
 621.382.2

Аннотация
 Предложена комплексная методика разработки встроенного тестирования КМОП СБИС, которая предусматривает создание иерархической модели СЦТ с компрессией, использование моделей ОЗУ для тестирования связей блоков памяти, применение технологии Pattern Map для тестирования блоков ОЗУ небольшой глубины и технологии MBIST для остальных блоков ОЗУ. В результате применения данной методики снижено время разработки на 20%, на 5% увеличено тестовое покрытие, а также поднята эффективность и сокращена площадь кристалла на 0,05% за счет применения технологии Pattern Map вкупе с MBIST.
Ключевые слова
 Отбраковка, тестирование, микросхема, ОЗУ, сканирующие цепочки триггеров, технология Pattern Map.
Ссылка на статью
 Ладнушкин М.С. Методика встроенного тестирования субмикронных цифровых КМОП СБИС // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 485-488.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D96.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН