Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Анализ задержек в микроархитектурных моделях коммуникационных фабрик  

Авторы
 Викторов Ю.О.
 Готманов А.Н.
Год публикации
 2012
УДК
 004.942

Аннотация
 В этой статье мы изложим теоретические основы метода анализа задержек в микроархитектурных моделях коммуникационных фабрик. Мы покажем, как получить верхнюю оценку задержки и верифицировать ее с помощью ранжирующих функций.
Ключевые слова
 качество обслуживания, формальная верификация, xMAS, системы на кристалле, коммуникационные фабрики, ранжирующие функции.
Ссылка на статью
 Викторов Ю.О., Готманов А.Н. Анализ задержек в микроархитектурных моделях коммуникационных фабрик // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 67-72.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D116.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН