Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Модели и методы диагностирования цифровых систем на кристаллах  

Авторы
 Хаханов В.И.
 Литвинова Е.
 Гузь О.
 Чумаченко С.
Год публикации
 2012
УДК
 658.512.011:681.326:519.713

Аннотация
 Предлагается инфраструктура верификации и сервисного обслуживания цифровых систем на кристаллах на основе параллельного анализа табличных или матричных структур данных в векторном логическом пространстве при использовании мультипроцессорных архитектур. Рассматриваются модели и методы верификации, встроенного диагностирования и восстановления работоспособности компонентов цифровых систем, где качество решения оценивается неарифметической метрикой взаимодействия булевых векторов.
Ключевые слова
 Мультипроцессор, векторно-логический анализ, критерий качества, верификация, диагностирование цифровых компонентов, процесс-модель поиска дефектов
Ссылка на статью
 Хаханов В.И., Литвинова Е., Гузь О., Чумаченко С. Модели и методы диагностирования цифровых систем на кристаллах // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 22-29.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D134.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН