Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Опыт разработки встроенных средств и методов измерений характеристик микроэлектронных систем

Авторы
 Зубаков А.В.
 Кондратенко С.В.
 Севрюков А.Н.
Год публикации
 2005
УДК
 621.382; 621.317.1

Аннотация
 Приводится общий подход к разработке встроенных средств и методов лабораторного или производственного тестирования микроэлектронных устройств различного типа и назначения. Эти методы и средства предназначены для отбраковки, а также проведения квалификационных испытаний, предусматривающих измерения основных технических характеристик данных устройств с учетом возможностей и ограничений, накладываемых имеющейся измерительной аппаратурой. Представлены примеры реализации встроенных средств и методов измерений для ряда разработанных и изготовленных цифровых и смешанных микросхем и сложно-функциональных блоков.
Ключевые слова
 встроенные средства тестирования, типовая оценочная схема, контроль тока потребления, отбраковка, квалификационные испытания
Ссылка на статью
 Зубаков А.В., Кондратенко С.В., Севрюков А.Н. Опыт разработки встроенных средств и методов измерений характеристик микроэлектронных систем // Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2005. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2005. С. 328-333.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2005/49.doc

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН