Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Исследование стойкости к воздействию отдельных ядерных частиц ячеек КНИ КМОП ОЗУ методами смешанного 3D TCAD-SPICE моделирования  

Авторы
 Петросянц К.О.
 Харитонов И.А.
 Орехов Е.В.
 Самбурский Л.М.
 Ятманов А.П.
 Воеводин А.В.
Год публикации
 2012
УДК
 УДК 621.382.32

Аннотация
 В статье приведены результаты смешанного 3D приборно-схемотехнического моделирования воздействия ОЯЧ на различные области КНИ МОП транзисторов в составе ячейки памяти при масштабировании транзисторов от 0,5 до 0,1 мкм. Показано, что на устойчивость ячейки памяти к воздействию ОЯЧ существенно влияет не только величина критического заряда, но и место попадания частицы, и форма возникающего при этом импульса тока.
Ключевые слова
 ячейки ОЗУ, КНИ КМОП, ОЯЧ, TCAD-SPICE моделирование, масштабирование
Ссылка на статью
 Петросянц К.О., Харитонов И.А., Орехов Е.В., Самбурский Л.М., Ятманов А.П., Воеводин А.В. Исследование стойкости к воздействию отдельных ядерных частиц ячеек КНИ КМОП ОЗУ методами смешанного 3D TCAD-SPICE моделирования // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 413-418.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D173.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН