Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Моделирование NBTI-эффекта в аналоговых интегральных схемах  

Авторы
 Гурарий М.М.
 Жаров М.М.
 Русаков С.Г.
 Ульянов С.Л.
Год публикации
 2012
УДК
 621.372

Аннотация
 Рассматриваются вопросы деградации характеристик аналоговых интегральных схем под влиянием NBTI-эффекта. Предлагается новый подход, позволяющий учитывать этот эффект в наиболее сложных автономных блоках, в частности в автогенераторах. Подход основан на решении системы дифференциальных уравнений, полученной из моделей NBTI. На каждом шаге интегрирования производится моделирование схемы методом гармонического баланса. В отличие от известных методов новый подход не требует предварительной оценки усредненных (по периоду сигнала) параметров модели NBTI, а также позволяет оптимизировать вычислительные затраты за счет выбора метода и шага интегрирования. Подход применим к многочастотным схемам.
Ключевые слова
 NBTI-эффект, деградация характеристик, надежность, субмикронные СБИС, пороговое напряжение, напряженность поля
Ссылка на статью
 Гурарий М.М., Жаров М.М., Русаков С.Г., Ульянов С.Л. Моделирование NBTI-эффекта в аналоговых интегральных схемах // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2012. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2012. С. 153-156.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2012/pdf/D174.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН