Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Метод математического тестирования программ анализа переходных процессов в САПР электронных схем  

Авторы
 Маничев В.Б.
 Жук Д.М.
 Витюков Ф.А.
Год публикации
 2014
УДК
 УДК 519.622

Аннотация
 В статье рассматривается метод тестирования программ анализа переходных процессов в EDA пакетах, использующих SPICE симулятор (на примере программ NI-Multisim, Cadance-OrCAD-PSPICE, SYMICA), на математических тестах с известным математически точным решением. Рассмотрены только «трудные» тестовые задачи. Приведено сравнение с решателями систем ОДУ из математических пакетов. Показан основной недостаток SPICE симулятора – выдача по умолчанию неверного (иногда правдоподобного, но не достаточно точного по сравнению с заданной точностью) решения без предупреждения пользователя.
Ключевые слова
 автоматизированное проектирование электронных схем, математическое моделирование, обыкновенные дифференциальные уравнения (ОДУ), SPICE симулятор.
Ссылка на статью
 Маничев В.Б., Жук Д.М., Витюков Ф.А. Метод математического тестирования программ анализа переходных процессов в САПР электронных схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть I. С. 83-88.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D005.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН