Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Методика автоматизации тестопригодного проектирования аналоговых ИС по технологии OBIST  

Авторы
 Мосин С.Г.
Год публикации
 2014
УДК
 004.4

Аннотация
 В работе предложена методика автоматизации тестопригодного проектирования аналоговых ИС по технологии OBIST, формализующая проектные процедуры разработки тестирующей подсхемы и условий тестирования. Предложены структурные решения по реконфигурированию оригинальной схемы в автогенератор и правила, обеспечивающие условия самовозбуждения ИС в режиме тестирования. Представлены примеры реализации тестирующих подсхем для активных фильтров.
Ключевые слова
 автоматизация, тестопригодное проектирование, реконфигурирование, аналоговые интегральные схемы, OBIST
Ссылка на статью
 Мосин С.Г. Методика автоматизации тестопригодного проектирования аналоговых ИС по технологии OBIST // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть I. С. 95-100.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D020.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН