Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Исследование и разработка структур для экстракции параметров моделей схемотехнического учета дозовых радиационных эффектов субмикронных СБИС  

Авторы
 Титов А.И.
 Шелепин Н.А.
 Селецкий А.В.
Год публикации
 2014
УДК
 621.382.2/.3

Аннотация
 Рассматриваются проблемы схемотехнического моделирования радиационных эффектов, возникающих в субмикронных СБИС. Представлена разработка минимального набора тестовых структур для экстракции радиационно-зависимых параметров КМОП транзисторов изготавливаемых по технологии объёмного кремния.
Ключевые слова
 КМОП, космическое излучение, радиационная стойкость
Ссылка на статью
 Титов А.И., Шелепин Н.А., Селецкий А.В. Исследование и разработка структур для экстракции параметров моделей схемотехнического учета дозовых радиационных эффектов субмикронных СБИС // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть3. С. 149-154.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D045.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН