Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Структурное решение тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем  

Авторы
 Быханова Н.В.
 Мосин С.Г.
Год публикации
 2014
УДК
 004.4

Аннотация
 В данной статье предложено структурное решение для тестового генератора, входящего в состав подсистем встроенного самотестирования цифровых схем. Решение направлено на минимизацию аппаратных затрат и автоматизацию процесса формирования тестового генератора. Его идея заключается в использовании одного генератора тестов для двух способов тестирования: псевдослучайного и детерминированного. Представлены результаты экспериментальных исследований.
Ключевые слова
 встроенное самотестирование, тестовый генератор, LFSR, покрытие неисправностей
Ссылка на статью
 Быханова Н.В., Мосин С.Г. Структурное решение тестового генератора для подсистем встроенного самотестирования цифровых схем // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть 4. С. 95-100.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D076.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН