Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Об одном методе построения метрик функционального покрытия в тестировании микропроцессоров  

Авторы
 Хисамбеев И.Ш.
 Чибисов П.А.
Год публикации
 2014
УДК
 004.052.42

Аннотация
 Функциональная верификация является на сегодняшний день неотъемлемой частью процесса разработки микроэлектронных систем, в том числе микропроцессоров. Статья посвящена исследованию и разработке способа оценки полноты тестирования. Обсуждаются такие понятия как задаваемая пользователем метрика тестового покрытия на уровне набора инструкций, тестовая ситуация, модель покрытия. Описан опыт применения предлагаемого подхода к построению метрик.
Ключевые слова
 Функциональная верификация, стохастическое тестирование, микропроцессор, метрики тестового покрытия, тестовые ситуации, модель покрытия, генерация случайных тестов.
Ссылка на статью
 Хисамбеев И.Ш., Чибисов П.А. Об одном методе построения метрик функционального покрытия в тестировании микропроцессоров // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть 2. С. 63-68.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D104.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН