Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Тестирование и предельные метрологические возможности импульсно-потенциального АЦП в СнК  

Авторы
 Крутчинский С.Г.
 Жебрун Е.А.
Год публикации
 2014
УДК
 621.375

Аннотация
 Предложена процедура тестирования импульсно-потенциального АЦП, направленная на минимизацию влияния дрейфа нуля аналоговых трактов на точность преобразования входного сигнала. Процедура основывается на базовом свойстве этого АЦП – квантование по энергии. Показано, что вводимые фазы тестирования позволяют определить двоичные слова, которые в общей аддитивной последовательности вычисления измеряемой величины являются поправочными и не увеличивают её чувствительность. Сформулированы параметрические условия применимости метода, которые обосновывают необходимость решения вспомогательных схемотехнических задач.
Ключевые слова
 Аналого-цифровые преобразователи, тестирование СФ блоков, смешанные системы на кристалле, дрейф нуля, погрешность измерения.
Ссылка на статью
 Крутчинский С.Г., Жебрун Е.А. Тестирование и предельные метрологические возможности импульсно-потенциального АЦП в СнК // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть 3. С. 15-20.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D128.pdf

Copyright © 2009-2019 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН