Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Выявление контрафакта внутри однородной партии микросхем при измерении s-параметров  

Авторы
 Семенов А.
 Федорец В.Н.
Год публикации
 2014
УДК
 621.3.082.74

Аннотация
 Задача подтверждения однородности микросхем важна для выявления бракованных и контрафактных изделий в партии. В данной работе сделана попытка упрощения анализа микросхем за счет использования их s-параметров для оценки однородности партии. Это особенно актуально в связи с быстро возрастающим количеством контрафактной продукции.
Ключевые слова
 контрафакт, NBTI, HCI, s-параметры
Ссылка на статью
 Семенов А., Федорец В.Н. Выявление контрафакта внутри однородной партии микросхем при измерении s-параметров // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2014. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2014. Часть3. С. 21-24.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2014/pdf/D139.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН