Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Двухпараметрическая модель для оценки чувствительности СБИС к воздействию тяжелых заряженных частиц  

Авторы
 Чумаков А.И.
Год публикации
 2016
УДК
 621.382

Аннотация
 Предложена двухпараметрическая модель для оценки параметров чувствительности – сечений одиночных радиационных эффектов в функции линейных потерь (ЛПЭ) на основе модели собирания заряда точечной чувствительной областью. Представленная модель учитывает конечные размеры чувствительной области и более корректно описывает угловые зависимости по изменению пороговых значений ЛПЭ.
Ключевые слова
 тяжелые заряженные частицы, одиночные радиационные эффекты, сечение одиночных радиационных эффектов, СБИС.
Ссылка на статью
 Чумаков А.И. Двухпараметрическая модель для оценки чувствительности СБИС к воздействию тяжелых заряженных частиц // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2016. №4. С. 139-144.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2016/pdf/D021.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН