Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Исследование способов повышения эффективности стохастического тестирования моделей микропроцессоров  

Авторы
 Гревцев Н.А.
 Хисамбеев И.Ш.
 Чибисов П.А.
Год публикации
 2016
УДК
 004.052.42

Аннотация
 В статье описана методика функционального тестирования микропроцессоров, основанная на построении моделей функционального покрытия с при-влечением «тестового знания». Модели покрытия ис-пользуются для измерения, наблюдения и изменения направления процесса стохастического тестирования. Согласно методике вводятся метрики тестового покрытия на уровне инструкций микропроцессора, производится анализ получаемых данных о покрытии и оценивается эффективность стохастических тестов.
Ключевые слова
 функциональная верификация, RTL-модель микропроцессора, стохастическое тестирование, метрики тестового покрытия, модель покрытия, генерация псевдослучайных тестов.
Ссылка на статью
 Гревцев Н.А., Хисамбеев И.Ш., Чибисов П.А. Исследование способов повышения эффективности стохастического тестирования моделей микропроцессоров // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2016. №2. С. 8-15.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2016/pdf/D128.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН