Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Контроль однородности партии типовых микросхем при измерении радиочастотных характеристик  

Авторы
 Семенов А.
 Федорец В.Н.
 Старцев В.
Год публикации
 2016
УДК
 621.3.082.74

Аннотация
 Особенности современного производства микросхем предполагает использование методов проверки моделей, чувствительных к бракованным и некачественным изделиям, в настоящей статье приведен подход, позволяющий обнаруживать несоответствующие изделия путем измерения совокупностей принципиально различных радиочастотных характеристик.
Ключевые слова
 контроль качества, s-параметры, выявление контрафакта
Ссылка на статью
 Семенов А., Федорец В.Н., Старцев В. Контроль однородности партии типовых микросхем при измерении радиочастотных характеристик // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем (МЭС). 2016. №3. С. 49-56.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2016/pdf/D185.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН