Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Рациональный состав типовой оценочной схемы для контроля радиационной стойкости партий пластин базовых матричных кристаллов  

Авторы
 Московская Ю.
 Сорокоумов Г.
 Бобровский Д.
 Никифоров А.Ю.
 Денисов А.Н.
 Сницар В.Г.
 Жуков А.А.
 Уланова А.В.
Год публикации
 2016
УДК
 621.382.2/.3

Аннотация
 Предложен и обоснован выбор состава типовых оценочных схем для проведения испытаний партий пластин на радиационную стойкость в целях контроля стабильности технологического процесса. Предложен вариант состава типовых оценочных схем на основе БМК.
Ключевые слова
 типовая оценочная схема, базовый матричный кристалл, радиационная стойкость.
Ссылка на статью
 Московская Ю., Сорокоумов Г., Бобровский Д., Никифоров А.Ю., Денисов А.Н., Сницар В.Г., Жуков А.А., Уланова А.В. Рациональный состав типовой оценочной схемы для контроля радиационной стойкости партий пластин базовых матричных кристаллов // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем - 2016. Сборник трудов / под общ. ред. академика РАН А.Л. Стемпковского. М.: ИППМ РАН, 2016. Часть IV. С. 153-157.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2016/pdf/D193.pdf

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН