Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Технометрическая идентификация микросхем для контроля жизненного цикла и поиска контрафакта  

Авторы
 Семенов А.В.
 Старцев В.Н.
 Степанов Е.Н.
Год публикации
 2018
DOI
 10.31114/2078-7707-2018-4-143-148
УДК
 621.3.082.74

Аннотация
 Рассмотрена возможность контроля и идентификации микросхем и других изделий электронной техники. В частности, мы предлагаем идентификацию на основе измерений аналоговых характеристик изделия, рассматриваемого как «черный ящик». Для построение системы использован аппарат биометрии и физически неклонируемых функций. Показано, что измерения s-параметров позволяют идентифицировать микросхему и одновременно решать задачу идентификации и определения подлинных микросхем.
Ключевые слова
 контрафакт, идентификация интегральных микросхем, физически неклонируемые функции, биометрия.
Ссылка на статью
 Семенов А.В., Старцев В.Н., Степанов Е.Н. Технометрическая идентификация микросхем для контроля жизненного цикла и поиска контрафакта // Проблемы разработки перспективных микро- и наноэлектронных систем. 2018. Выпуск 4. С. 143-148.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2018/pdf/D072.pdf

Copyright © 2009-2019 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН