Главная         Авторы   Статьи   Год проведения   Тематика   Организации        Конференция МЭС

Методы статистического временного анализа цифровых схем

Авторы
 Глебов А.Л.
Год публикации
 2005
УДК
 004.021

Аннотация
 Повышение степени интеграции цифровых СБИС и уменьшение минимальных размеров элементов с переходом в субмикронную область выдвигает на первый план задачу повышения надежности СБИС на этапе их проектирования. Существенными факторами, влияющими на работу схемы, становятся статистические вариации как внешних условий, в которых работает схема, так и параметров элементов самой схемы. К вариациям внешних условий можно отнести изменения температуры, напряжения питания, различные деградационные явления. Вариациями параметров элементов являются прежде всего случайные изменения размеров транзисторов.
Цель настоящей работы – решение указанной задачи путем разработки методов и алгоритмов статистического временного анализа для цифровых схем, а также проведение численных экспериментов с указанными методами и алгоритмами.
Ключевые слова
 статистический анализ, временной анализ, цифровые схемы
Ссылка на статью
 Глебов А.Л. Методы статистического временного анализа цифровых схем // Проблемы разработки перспективных микроэлектронных систем - 2005. Сборник научных трудов / под общ. ред. А.Л.Стемпковского. М.:ИППМ РАН, 2005. С. 60-65.
Адрес статьи
 http://www.mes-conference.ru/data/year2005/09.doc

Copyright © 2009-2018 ИППМ РАН. All Rights Reserved.

Разработка сайта - ИППМ РАН