Аналитические доклады на МЭС-2016

к.ф.-м.н. Камкин А.С. Институт системного программирования РАН

Формальная верификация аппаратуры: задачи и методы

д.т.н., профессор Чумаков А.И. Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ"

Текущее состояние и прогноз развития методов оценки и обеспечения радиационной стойкости изделий микроэлектроники

д.т.н., профессор Петросянц К.О. МИЭМ НИУ ВШЭ

Проблемы моделирования элементов БИС с учетом влияния температуры и радиации

к.т.н. Велигоша А.В. Северо-Кавказский Федеральный Университет

Анализ проблем цифровой фильтрации и пути их решения

д.т.н., профессор Коротков А.С. Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, Институт электроники и телекоммуникаций

Системы радиочастотной идентификации: применение, разработки, развитие